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反射率測(cè)量裝置MSP-100介紹

發(fā)布時(shí)間:2024-04-01 點(diǎn)擊量:370

反射率測(cè)量裝置MSP-100介紹

以未有的低成本實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域、曲面和超薄樣品的高速、高精度測(cè)量。

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  • 通過使用特殊的半反射鏡,可以減少背面反射光,無需背面處理即可在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。
    (可測(cè)量 0.2 mm 薄板的反射率:使用 ×20 物鏡時(shí))

  • 還可以測(cè)量鏡片曲面和涂層不均勻度。(在樣品表面連接微小點(diǎn)(φ50μm))

  • 即使是低反射率的樣品也可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,并且具有高重復(fù)性。(光學(xué)設(shè)計(jì)捕獲最大量的光,并
    通過512元件線性PDA、內(nèi)置16位A/D轉(zhuǎn)換器和USB 2.0接口的高速計(jì)算實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量)

  • 可以進(jìn)行色度測(cè)量和L*a*b*測(cè)量。可以使用光譜比色法根據(jù)光譜反射率來測(cè)量物體。

  • 數(shù)據(jù)可以以 Microsoft Excel(R) 格式保存。

  • 單層薄膜可以非接觸式、非破壞性地測(cè)量。

  • 具有在同一屏幕上顯示多個(gè)測(cè)量結(jié)果的功能。這使得比較測(cè)量結(jié)果變得更加容易。

規(guī)格

型號(hào)MSP-100
測(cè)量波長(zhǎng)380~1050nm
測(cè)量重復(fù)性±0.2%(380-450nm)
±0.02%(451-950nm)
±0.2%(951-1050nm)
樣品面 NANA 0.12(使用 10 倍物鏡時(shí))
樣品測(cè)量范圍φ50μm(使用10倍物鏡時(shí))
樣品曲率半徑-1R~-無窮大, +1R~無窮大
顯示分辨率1納米
測(cè)量時(shí)間幾秒到十幾秒(取決于采樣時(shí)間)
外形尺寸(寬)230×(高)560×(深)460mm(僅機(jī)身)
工作溫度限制18~28℃
工作濕度60%以下(無凝露)


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